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三綜合試驗(yàn)箱結(jié)合溫度、濕度、振動(dòng)功能干-體,適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元?dú)饧诰C合的惡劣環(huán)境下檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能指標(biāo)。
GB/5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備參數(shù)檢定方法(溫度試驗(yàn)設(shè)備)
GB2423.1-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試檢規(guī)程(試驗(yàn)A低溫試驗(yàn)方法)
GB2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程(試驗(yàn)B高溫試驗(yàn)方法)
GB/T2423.3-93電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試檢規(guī)程(濕然試驗(yàn)方法}
GJB150.3-86軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法(離高溫試驗(yàn))
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